湖北長江萬潤半導體申請一種利用閃存弱頁及其分佈類型快速測試閃存的專利，高效評估整個閃存的品質

金融界2024年12月5日消息，國家知識產權局信息顯示，湖北長江萬潤半導體技術有限公司申請一項名爲“一種利用閃存弱頁及其分佈類型快速測試閃存的方法”的專利，公開號 CN 119068968 A，申請日期爲2024年11月。

專利摘要顯示，本發明公開了一種基於查找閃存弱頁及分佈類型的閃存快速測試方法，包括以下步驟：1）讀取閃存指定Block的配置信息；2）在指定的Block內在頁首、頁中及頁尾三個位置對應的區域進行讀取，在沒有擦寫條件下，記錄頁首、頁中、頁尾每個區域對應的Page頁的錯誤比特翻轉數目；3）根據頁首、頁中、頁尾每個區域對應的Page頁的錯誤比特翻轉數目，確定指定的Block內閃存弱頁的分佈類型以及對應區域中的閃存弱頁位置；4）根據指定的Block內閃存弱頁的分佈類型以及對應區域中的閃存弱頁位置，實時監測閃存弱頁快速評估整個閃存芯片的可靠性。本發明通過閃存弱頁及分佈特性來表徵閃存芯片品質及可靠性，僅僅只需要監控閃存弱頁狀況即可高效評估整個閃存的品質。

本文源自：金融界

作者：情報員