惠存半導體申請一種FLASH芯片的測試系統及測試方法專利，提升FLASH芯片的測試的智能性

金融界2025年7月7日消息，國家知識產權局信息顯示，深圳市惠存半導體有限公司申請一項名爲“一種FLASH芯片的測試系統及測試方法”的專利，公開號CN120256220A，申請日期爲2025年03月。

專利摘要顯示，本申請實施例公開了一種FLASH芯片的測試系統及測試方法，應用於電子設備，電子設備包括FLASH芯片；方法包括：獲取FLASH芯片的第一測試環境參數；獲取FLASH芯片的測試參數和參考測試結果參數；根據第一測試環境參數和測試參數對FLASH芯片進行多次測試，得到多個測試結果參數；根據多個測試結果參數確定第一測試結果參數；確定第一測試結果參數與參考測試結果參數之間的第一偏離度；在第一偏離度處於第一預設範圍時，確定FLASH芯片測試合格。

天眼查資料顯示，深圳市惠存半導體有限公司，成立於2018年，位於深圳市，是一家以從事其他製造業爲主的企業。企業註冊資本500萬人民幣。通過天眼查大數據分析，深圳市惠存半導體有限公司參與招投標項目3次，財產線索方面有商標信息8條，專利信息9條，此外企業還擁有行政許可8個。

本文源自：金融界

作者：情報員