長鑫科技申請測試方法專利，使存儲器中的弱存儲單元在老化測試過程中儘早暴露

金融界2025年2月13日消息，國家知識產權局信息顯示，長鑫科技集團股份有限公司申請一項名爲“測試方法”的專利，公開號 CN 119400229 A，申請日期爲2023年7月。

專利摘要顯示，本公開提供了一種測試方法，涉及半導體技術領域，應用於存儲器，該存儲器包括多條字線、多條位線以及多個存儲單元，方法包括：遍歷測試程序集合中的測試程序，並根據遍歷到的測試程序生成激活信號與電壓控制信號；利用該激活信號激活上述多條字線中的部分字線，以及利用該電壓控制信號對上述多條位線施加電壓；其中，相鄰兩條被激活的字線之間存在至少一條未被激活的字線，任意相鄰的兩條位線上施加的電壓存在電壓差；在遍歷完測試程序集合中的測試程序後，檢測上述多個存儲單元中是否存在具有缺陷的目標存儲單元。本公開可以使存儲器中的弱存儲單元在老化測試過程中儘早暴露出來，從而有助於準確檢測出存儲器中的弱存儲單元。

天眼查資料顯示，長鑫科技集團股份有限公司，成立於2016年，位於合肥市，是一家以從事計算機、通信和其他電子設備製造業爲主的企業。企業註冊資本5777094.224萬人民幣，實繳資本5363300萬人民幣。通過天眼查大數據分析，長鑫科技集團股份有限公司共對外投資了17家企業，參與招投標項目1088次，知識產權方面有商標信息207條，專利信息276條，此外企業還擁有行政許可28個。

本文源自：金融界

作者：情報員