中芯國際取得缺陷檢測方法及缺陷檢測系統專利

金融界2025年3月21日消息，國家知識產權局信息顯示，中芯國際集成電路製造(上海)有限公司、中芯國際集成電路製造(北京)有限公司取得一項名爲“缺陷檢測方法及缺陷檢測系統”的專利，授權公告號 CN 112444526 B，申請日期爲 2019年9月。

天眼查資料顯示，中芯國際集成電路製造(上海)有限公司，成立於2000年，位於上海市，是一家以從事計算機、通信和其他電子設備製造業爲主的企業。企業註冊資本244000萬美元，實繳資本244000萬美元。通過天眼查大數據分析，中芯國際集成電路製造(上海)有限公司共對外投資了4家企業，參與招投標項目120次，財產線索方面有商標信息147條，專利信息5000條，此外企業還擁有行政許可442個。

本文源自：金融界

作者：情報員