廣州諾頂智能科技取得基於擴散模型的芯片缺陷檢測相關專利

金融界2025年6月3日消息，國家知識產權局信息顯示，廣州諾頂智能科技有限公司取得一項名爲“基於擴散模型的芯片缺陷檢測方法、裝置、設備及介質”的專利，授權公告號CN119941725B，申請日期爲2025年04月。

本文源自：金融界

作者：情報員