上海御渡半導體申請提升AC測量精度方法專利，能夠獲得更準確的信號特徵時刻

金融界2025年6月3日消息，國家知識產權局信息顯示，上海御渡半導體科技有限公司申請一項名爲“一種提升AC測量精度的方法”的專利，公開號CN120064750A，申請日期爲2025年03月。

專利摘要顯示，本發明揭示了一種提升AC測量精度的方法，包括在波形週期內獲取信號沿位置；在信號沿位置的相鄰區間內進行多次採樣；根據多次採樣的結果計算信號沿的校準時刻。本發明能夠獲得更準確的信號特徵時刻。

本文源自：金融界

作者：情報員