華芯半導體申請基於視覺識別的VCSEL芯片外觀缺陷檢測系統及方法專利，判斷有源區異常數據集中的異常數據是否具備可逆性

金融界2025年6月9日消息，國家知識產權局信息顯示，華芯半導體科技有限公司;華芯半導體研究院（北京）有限公司申請一項名爲“基於視覺識別的VCSEL芯片外觀缺陷檢測系統及方法”的專利，公開號CN120107185A，申請日期爲2025年02月。

專利摘要顯示，本發明公開了基於視覺識別的VCSEL芯片外觀缺陷檢測系統及方法，屬於外觀缺陷檢測技術領域。本發明採集芯片圖像，進行有源區檢測得到有源區參數，將芯片圖像和有源區參數進行關聯，得到芯片外觀檢測數據集；訓練卷積神經網絡模型，將待檢測的芯片圖像輸入到訓練好的卷積神經網絡模型中，得到有源區異常數據集；將有源區異常數據集中的異常類型和異常位置整合進行聚類分析，結合有源區參數，計算每個聚類簇內參數的均值和標準差；將每個聚類簇作爲一個節點，依據聚類簇之間的相似性確定邊；計算每個節點的度，識別圖中的子圖結構；將不同時間點的子圖結構進行對比，判斷有源區異常數據集中的異常數據是否具備可逆性。

天眼查資料顯示，華芯半導體科技有限公司，成立於2015年，位於泰州市，是一家以從事計算機、通信和其他電子設備製造業爲主的企業。企業註冊資本23715.4421萬人民幣。通過天眼查大數據分析，華芯半導體科技有限公司共對外投資了4家企業，參與招投標項目5次，財產線索方面有商標信息2條，專利信息64條，此外企業還擁有行政許可28個。

華芯半導體研究院（北京）有限公司，成立於2019年，位於北京市，是一家以從事研究和試驗發展爲主的企業。企業註冊資本5000萬人民幣。通過天眼查大數據分析，華芯半導體研究院（北京）有限公司專利信息50條，此外企業還擁有行政許可2個。

本文源自：金融界

作者：情報員