浙江大學和創芯集成電路取得晶圓失效預測方法及系統專利

金融界2025年5月20日消息，國家知識產權局信息顯示，浙江大學；浙江創芯集成電路有限公司取得一項名爲“一種自監督加強的半監督的晶圓失效預測方法及系統”的專利，授權公告號CN119557571B，申請日期爲2025年02月。

本文源自：金融界

作者：情報員