浙江大學和創芯集成電路取得晶圓失效預測方法及系統專利
金融界2025年5月20日消息,國家知識產權局信息顯示,浙江大學;浙江創芯集成電路有限公司取得一項名爲“一種自監督加強的半監督的晶圓失效預測方法及系統”的專利,授權公告號CN119557571B,申請日期爲2025年02月。
本文源自:金融界
作者:情報員
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