賽默菲尼根申請使用多個累積事件的電荷檢測質譜分析專利，公開用於電荷檢測質譜分析的系統

金融界2025年8月9日消息，國家知識產權局信息顯示，賽默菲尼根有限責任公司申請一項名爲“使用多個累積事件的電荷檢測質譜分析”的專利，公開號CN120446366A，申請日期爲2025年02月。

專利摘要顯示，使用多個累積事件的電荷檢測質譜分析。本發明公開了一種用於電荷檢測質譜分析(CDMS)的系統，該系統執行包括以下各項的過程：將感興趣的m/z範圍細分成多個m/z窗口；確定每個m/z窗口的離子布居控制參數；按照一個或多個累積事件在離子存儲器中累積源自樣本的離子布居；將該離子布居轉移到質量分析器；以及對該離子布居進行質量分析以採集該離子布居的CDMS頻譜。每個累積事件對應於該多個m/z窗口中的不同m/z窗口。每個m/z窗口的該離子布居控制參數調節在累積事件期間累積在離子存儲器中的離子的量。在每個累積事件期間，對應於該累積事件的該m/z窗口內的離子基於對應的m/z窗口的該離子布居控制參數而累積在該離子存儲器中。

本文源自：金融界

作者：情報員