寬騰矽申請具有不同檢測時間的電荷存儲倉的集成光電檢測器專利，選擇性引導電荷載體

金融界2025年1月29日消息，國家知識產權局信息顯示，寬騰矽公司申請一項名爲“具有不同檢測時間的電荷存儲倉的集成光電檢測器”的專利，公開號 CN 119364214 A，申請日期爲2019年6月。

專利摘要顯示，一種集成電路：包含被配置爲接收入射光子的光電檢測區。該光電檢測區被配置爲響應於所述入射光子而產生多個電荷載體。該集成電路包含電荷載體存儲區。該集成電路還包含電荷載體分離結構，該電荷載子分離結構被配置爲基於所述多個電荷載體的電荷載體產生的時間選擇性地將所述電荷載體直接引導至所述至少一個電荷載體存儲區中。

本文源自：金融界

作者：情報員