上海積塔半導體申請檢驗布爾運算方法及系統等專利，能準確判斷布爾運算是否正確及錯誤位置

金融界2025年6月2日消息，國家知識產權局信息顯示，上海積塔半導體有限公司申請一項名爲“檢驗布爾運算的方法及系統、計算機程序產品及裝置”的專利，公開號CN120068792A，申請日期爲2025年02月。

專利摘要顯示，本發明涉及半導體制造技術領域，提供了一種檢驗布爾運算的方法及系統、計算機程序產品及裝置。所述方法包括：建立研發平臺所有半導體器件與目標Mask層的映射關係，並生成驗證腳本；採用待檢驗的布爾運算處理原始版圖，並在處理過程中保留或生成用於識別半導體器件的標識層；以及運行所述驗證腳本，將根據所述標識層所抽取到的所述半導體器件的所有實際Mask層與所述映射關係中所述半導體器件對應的所有所述目標Mask層一一比對，以判斷所述待檢驗的布爾運算是否正確以及發生錯誤的位置。

本文源自：金融界

作者：情報員