三星顯示申請發光元件檢查方法等相關專利，提供新的發光元件檢查方案

金融界2025年6月21日消息，國家知識產權局信息顯示，三星顯示有限公司申請一項名爲“發光元件檢查方法、顯示設備製造方法和發光元件檢查設備”的專利，公開號CN120177565A，申請日期爲2024年11月。

專利摘要顯示，本申請涉及發光元件檢查方法、顯示設備製造方法和發光元件檢查設備。發光元件檢查方法包括：通過蝕刻堆疊在生長襯底上的多個半導體材料層來形成多個發光元件杆；形成覆蓋多個發光元件杆的頂表面的一部分和側表面的一部分的保護層並且在保護層上形成接觸電極；在多個發光元件杆的側表面上以及生長襯底的沒有設置多個發光元件杆的部分上形成金屬層；在生長襯底上形成連接到金屬層的接觸焊盤；以及向接觸電極和接觸焊盤施加測試電力。

本文源自：金融界

作者：情報員