《科技》蔡司助攻產業發展 COMPUTE秀AI伺服器檢測

隨着生成式AI發展，市場對AI伺服器需求大幅提升，推動製程對精密度與穩定性的要求。蔡司對此推出ZEISS METROTOM CT斷層掃瞄系統，採用非破壞性的電腦斷層掃描技術，利用高能X光對檢測物體進行穿透拍攝，並將獲得的3D資料透過電腦進行重組和重建。

蔡司表示，此方案具高解析度成像與先進光學技術，可掃描工件的裂縫、氣孔、孔隙或其他瑕疵等不同壁厚或缺陷，提供更明確的幾何形狀與公差等資訊，適用於元件至AI伺服器機櫃的全方位檢測，協助供應鏈業者快速偵測並分析隱藏缺陷，提升檢測效率與產品品質。

蔡司臺灣工業量測解決方案總監嚴子登表示，ZEISS METROTOM CT斷層掃瞄系統應用領域橫跨PCB/PCBA、連接器、散熱管理以及伺服器系統組裝Level 10、11階段等環節，能滿足伺服器面對革命性升級時所碰到的挑戰困境。

嚴子登表示，市場上的AI伺服器供不應求，供應鏈的任何中斷都可能對產業造成重大影響，此解決方案能提供快速檢測與分析，實現產線狀況排除，以加速全球AI產業發展。此外，蔡司今年更將首度於臺北國際電腦展進行實機展示。